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红外热像仪的测温光谱范围

时间:2021-04-16 16:34:51

  今天来给大家科普一下红外光谱仪的光谱范围。

  红外光谱仪器的光谱范围,对一般商售仪器,普及型为5000cm-1到600 cm-1;研究型仪器红外光谱范围为7800 cm-1到200 cm-1或20 cm-1。全光谱范围可以从l0000 cm-1到l0 cm-1,但由于应用范围有限,目前10000 cm-1到7000 cm-1,20 cm-1到10 cm-1应用较少。一般是通过更换探测器和分束器来达到这一宽光谱范围。习惯上把10000 cm-1至4000 cm-1范围称为近红外光谱;4000 cm-1至400 cm-1范围称中红外光谱;400 cm-1至l0 cm-1范围称为远红外光谱。金属有机化合物的有机键振动,许多无机化合物的键振动,晶架振动及分子的转动光谱多出现于远红外光谱区。
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  电子元件的设计和包装首要考虑温度因素

  需要更高可靠性的产品,带动散热设计,最前沿的发展电子元件和系统。它是众所周知的一种电子装置的可靠运行在很大程度上取决于其工作温度 - 下操作的温度,长期的时间越长组件的可靠性。无数次的试验和经验的测量已经证实,元件故障率呈指数与温度有关,由于一些热依赖性失效机理。不仅如此,任何多余的温度超出设计极限将导致该组件的瞬间故障,因此该系统的其余部分。这样的散热设计一直稳步上涨作为重要的电子元件的设计和包装的两个主要的考虑因素之一和系统 - 另一个是实际的产品功能。

  散热设计有针对性的热量所产生的管理一个包罗万象的学科电子电路。因此,它是涉及在电子在芯片或器件水平的包装,在板的水平,在机箱或外壳的水平,并在室温水平。一级抓一级,快速及持续

  封装密度带来了巨大的挑战,电子冷却,并且有越来越多是一个需要散热设计,采取协同或全面的方法,尽量增加效率在所有包装层次共同以及个别地在每一个级别。

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